|
|
|
|
|
00000cam2a22000003is4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0001376742 |
| 005 |
20170414100749.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20170414d1970 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 105 |
# |
# |
$a a ||||000yy
|
| 200 |
1 |
# |
$a Методы контроля толщин покрытий из драгоценных металлов
$f С. М. Сысоев
|
| 210 |
# |
# |
$a Москва
$c Институт "Электроника"
$d 1970
|
| 215 |
# |
# |
$a 29, [2] с.
$c ил.
$d 21 см
|
| 225 |
1 |
# |
$a Обзоры по электронной технике
$i Серия: Управление качеством и стандартизация
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v 1970, вып. 1
|
| 320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 27―30 (56 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 1080 экз.
|
| 461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br78457
$1 2001
$v 1970, вып. 1
|
| 700 |
# |
1 |
$a Сысоев
$b С. М.
$g Станислав Михайлович
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20170413
$g psbo
|
