Механизмы отказови надежность мощных СВЧ транзисторов / [А. М. Нечаев, Е. А. Рубаха, В. Ф. Синкевич]

Сохранено в:
Шифр документа: 153647-10,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Нечаев, А. М.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1978
Физические характеристики: 80 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1978, вып. 10
Загрузка