Механизмы отказови надежность мощных СВЧ транзисторов / [А. М. Нечаев, Е. А. Рубаха, В. Ф. Синкевич]

Сохранено в:
Шифр документа: 153647-10,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Нечаев, А. М.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1978
Физические характеристики: 80 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1978, вып. 10
00000cam2a22000003is4500
001 BY-NLB-br0001375755
005 20170412112856.0
100 # # $a 20170412d1978 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a ||||000yy 
200 1 # $a Механизмы отказови надежность мощных СВЧ транзисторов  $f [А. М. Нечаев, Е. А. Рубаха, В. Ф. Синкевич] 
210 # # $a Москва  $c ЦНИИ "Электроника"  $d 1978 
215 # # $a 80 с.  $c ил.  $d 21 см 
225 1 # $a Обзоры по электронной технике  $h Серия 2  $i Полупроводниковые приборы  $f Министерство электронной промышленности СССР  $v 1978, вып. 10 
300 # # $a Авторы указаны на обложке 
320 # # $a Библиография: с. 73―80 (117 назв.) 
345 # # $9 1680 экз. 
461 # 1 $1 001BY-NLB-br78453  $1 2001   $v 1978, вып. 10 
700 # 1 $a Нечаев  $b А. М.  $g Андрей Мартынович 
701 # 1 $a Рубаха  $b Е. А.  $g Ефим Аронович 
701 # 1 $a Синкевич  $b В. Ф.  $g Владимир Федорович 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20170403  $g psbo