|
|
|
|
|
00000cam2a22000003is4500 |
001 |
BY-NLB-br0001375755 |
005 |
20170412112856.0 |
100 |
# |
# |
$a 20170412d1978 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
105 |
# |
# |
$a a ||||000yy
|
200 |
1 |
# |
$a Механизмы отказови надежность мощных СВЧ транзисторов
$f [А. М. Нечаев, Е. А. Рубаха, В. Ф. Синкевич]
|
210 |
# |
# |
$a Москва
$c ЦНИИ "Электроника"
$d 1978
|
215 |
# |
# |
$a 80 с.
$c ил.
$d 21 см
|
225 |
1 |
# |
$a Обзоры по электронной технике
$h Серия 2
$i Полупроводниковые приборы
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v 1978, вып. 10
|
300 |
# |
# |
$a Авторы указаны на обложке
|
320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 73―80 (117 назв.)
|
345 |
# |
# |
$9 1680 экз.
|
461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br78453
$1 2001
$v 1978, вып. 10
|
700 |
# |
1 |
$a Нечаев
$b А. М.
$g Андрей Мартынович
|
701 |
# |
1 |
$a Рубаха
$b Е. А.
$g Ефим Аронович
|
701 |
# |
1 |
$a Синкевич
$b В. Ф.
$g Владимир Федорович
|
801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20170403
$g psbo
|