Исследование латеральной однородности плазмы в реакторах микроэлектроники методами двухракурсной эмиссионной томографии: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: специальность 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах / Фадеев Алексей Владимирович

Сохранено в:
Шифр документа: 2//182450(039),
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Фадеев, А. В.
Опубликовано: Москва , 2014
Физические характеристики: 22 с. : ил.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a2200000 ia4500
001 BY-NLB-br0001148147
005 20141202130825.0
100 # # $a 20141112d2014 k y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a m 000yy 
109 # # $a ac  $a aa 
200 1 # $a Исследование латеральной однородности плазмы в реакторах микроэлектроники методами двухракурсной эмиссионной томографии  $e автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук  $e специальность 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах  $f Фадеев Алексей Владимирович  $g [Физико-технологический институт Российской академии наук] 
210 # # $a Москва  $d 2014 
215 # # $a 22 с.  $c ил. 
320 # # $a Библиография: с. 20—22 
606 0 # $3 BY-NLB-ar18370  $a МИКРОЭЛЕКТРОНИКА  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar23657  $a ПЛАЗМЕННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar23671  $a ПЛАЗМОХИМИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar2510153  $a ДИАГНОСТИКА ПЛАЗМЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar1890620  $a ЭМИССИОННАЯ ТОМОГРАФИЯ  $2 DVNLB 
686 # # $a 47.13.33  $2 rugasnti  $v 6 
686 # # $a 29.27.49  $2 rugasnti  $v 6 
686 # # $a 05.27.01  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-ar8182428  $a Фадеев  $b А. В.  $g Алексей Владимирович 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20141112  $g psbo