Разработка технологических основ субмикронного профилирования поверхности подложек методом фокусированных ионных пучков для создания микро- и наноструктур: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук: 05.27.01 / Коломийцев Алексей Сергеевич

Сохранено в:
Шифр документа: 2//114455(039),
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Коломийцев, А. С.
Опубликовано: Таганрог , 2011
Физические характеристики: 23 с. : ил.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a2200000 ia4500
001 BY-NLB-br0000688525
005 20220418160731.0
100 # # $a 20110812d2011 k y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a m 000yy 
109 # # $a ac  $a aa 
200 1 # $a Разработка технологических основ субмикронного профилирования поверхности подложек методом фокусированных ионных пучков для создания микро- и наноструктур  $e автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук  $e 05.27.01  $f Коломийцев Алексей Сергеевич  $g [Южный федеральный университет] 
210 # # $a Таганрог  $d 2011 
215 # # $a 23 с.  $c ил. 
320 # # $a Библиография: с. 19—23 
606 0 # $3 BY-NLB-ar1611433  $a СУБМИКРОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar26346  $a ПРОФИЛИРОВАНИЕ (техн.)  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar24113  $a ПОДЛОЖКИ (электроника)  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar12180  $a ИОННЫЕ ПУЧКИ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar18306  $a МИКРОСТРУКТУРЫ (физ.)  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar2665900  $a НАНОСТРУКТУРЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar2121092  $a СВЕРХБОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ  $2 DVNLB 
686 # # $a 05.27.01  $2 oksvnk 
686 # # $a 47.33  $v 6  $2 rugasnti 
700 # 1 $a Коломийцев  $b А. С.  $g Алексей Сергеевич 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20110812  $g psbo