|
|
|
|
|
00000cam0a2200000 ia4500 |
001 |
BY-NLB-br0000254483 |
005 |
20081216095820.0 |
100 |
# |
# |
$a 20081208d2008 k y0rusy50 ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
105 |
# |
# |
$a a m 000yy
|
109 |
# |
# |
$a ac
$a aa
|
200 |
1 |
# |
$a Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом
$e автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора технических наук
$e 05.11.16
$f Шелковников Евгений Юрьевич
$g [Институт прикладной механики УрО РАН, ГОУ ВПО "Ижевский государственный технический университет"]
|
210 |
# |
# |
$a Ижевск
$d 2008
|
215 |
# |
# |
$a 48 с.
$c ил.
|
320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 44—48 (51 назв.)
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar45117
$a НАНОЭЛЕКТРОНИКА
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2289608
$a НАНОМАТЕРИАЛЫ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2665900
$a НАНОСТРУКТУРЫ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2183489
$a НАНОЧАСТИЦЫ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar76888
$a СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar34822
$a ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar25735
$a ПРОГРАММНО-АППАРАТНЫЕ КОМПЛЕКСЫ
$2 DVNLB
|
686 |
# |
# |
$a 47.13.07
$2 rugasnti
$v 6
|
686 |
# |
# |
$a 29.19.22
$2 rugasnti
$v 6
|
686 |
# |
# |
$a 29.35.43
$2 rugasnti
$v 6
|
686 |
# |
# |
$a 05.11.16
$2 oksvnk
|
700 |
# |
1 |
$3 BY-NLB-ar2938817
$a Шелковников
$b Е. Ю.
$g Евгений Юрьевич
|
801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20081208
$g psbo
|