|
|
|
|
|
00000nam1a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr23426400000 |
005 |
20071112151114.0 |
021 |
# |
# |
$a RU
$b [72-42612]
|
100 |
# |
# |
$a 20071112g19711972 y0rusy50 ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Надежность полупроводниковых приборов
$e (Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества продукции)
$f Всесоюз. о-во «Знание». Политехн. музей. Гос. ком. стандартов Совета Министров СССР, Всесоюз. совет науч.-техн. о-в
|
210 |
# |
# |
$a М.
$c Знание
$d 1971-1972
|
215 |
# |
# |
$a 2 т.
$d 20 см
|
300 |
# |
# |
$a Перед загл. авт.: вып. 1-Я. А. Федотов, М. И. Ефимов; вып. 2 и 3-А. С. Савина, В. А. Власов
|
345 |
# |
# |
$9 1750 экз.
|
610 |
0 |
# |
$a Полупроводниковые приборы - Мадежность - Сборники
|
675 |
# |
# |
$a 621.382.019.3
|
701 |
# |
1 |
$a Федотов
$b Я. А.
$g Яков Андреевич
|
701 |
# |
1 |
$a Савина
$b А. С.
$g Анна Сергеевна
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071112
$g psbo
|